是一款主要面向“单管级器件”用户服务的测试设备，可实现对Si基（选配SiC/GaN）材料的 IGBT、MOS-FET、Diode、BJT 的多种动态参数的精确测试，测试原理符合国军标。
测试项目包括开通时间、关断时间、上升时间、下降时间、导通延迟时间、关断延 迟时间、开通损耗、关断损耗、栅极总电荷、栅源充电电量、平台电压、反向恢复时间、反向恢复充电电量、反向恢复电流、反向恢复损耗、反向恢复电流变化率、反向恢复电压变化率、输入电容、输出电容、反向转移电容、短路等等。通过更换不同个性单元（简称 DUT）以达到对应的测试项目，通过软件切换可以选择测试单元、测试项目及配置测试参数、读取保存测试结果。系统集成度高，性能稳定，具有升级扩展潜能和良好的人机交互。
